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        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

        作者:至一科技 日期:2021-01-03 點擊:2534
        一鍵分享

        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

        ArisMD300主動隔振系統


        背       景:應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。

        使用單位:廈門稀土材料研究所

        地      點:福建省廈門市集美區兌山西珩路258號

        儀器型號:FEI Apreo S LoVac

        隔振方案:ArisMD300主動隔振系統


        ARISMD300主動隔振臺.jpg

        廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

        FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統應用安裝圖

        成像測試:

        Spreo S SEM成像圖01.jpg

        Spreo S SEM成像圖02.png

        Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后)

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